Medición de células solares de película delgada de silicio amorfo hidrogenado usando el método VIM
Se repasa el comportamiento de una célula solar de película delgada a través de un circuito equivalente. En este circuito se incluye un elemento que representa las pérdidas por recombinación en la célula. A partir del circuito equivalente damos la interpretación fisica de los parámetros caract...
| Autor Principal: | Muñoz Lasso, Alcides |
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| Formato: | Artículo |
| Idioma: | Español |
| Publicado: |
Universidad de Panamá
2005
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| Materias: | |
| Acceso en línea: |
http://up-rid.up.ac.pa/1255/ http://up-rid.up.ac.pa/1255/1/Tecnociencia%20Articulo%2010%207%282%29%2005.pdf |
| Sumario: |
Se repasa el comportamiento de una célula solar de película delgada a través de un circuito equivalente. En este circuito se incluye un elemento que representa las pérdidas por recombinación en la célula. A partir del circuito equivalente damos la interpretación fisica de los parámetros característicos así como de las constantes que intervienen en el funcionamiento de una célula. De los resultados se utiliza el método VIM (Variable Illumination Measurement) de Merten, que permite la medición y análisis de los parámetros más significativos de una célula solar de una manera fácil y rápida. Por último se miden diferentes dispositivos pin de células solares de a-Si:H realizano una validación entre los resultados encontrados por el método VIM y su simulación por ordenador de acuerdo al modelo presentado. |
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